BS ISO 15470-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述

作者:标准资料网 时间:2024-05-19 02:37:36  浏览:9092   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Surfacechemicalanalysis-X-rayphotoelectronspectroscopy-Descriptionofselectedinstrumentalperformanceparameters
【原文标准名称】:表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
【标准号】:BSISO15470-2005
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2005-03-31
【实施或试行日期】:2005-03-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:表面;化学分析和试验;精整;X射线;光谱学;含量测定;X射线分析;额定值;特性
【英文主题词】:Chemicalanalysisandtesting;Determinationofcontent;Finishes;Properties;Ratings;Spectroscopy;Surfaces;X-ray;X-rayanalysis
【摘要】:ThisInternationalStandarddescribesthewayinwhichspecificaspectsoftheperformanceofanX-rayphotoelectronspectrometershallbedescribed.
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_40
【页数】:14P.;A4
【正文语种】:英语